Perbincangan tentang keberkesanan litar pintas dalaman paksa,
bateri,

▍Apakah itu ANATEL Homologation?

ANATEL ialah singkatan untuk Agencia Nacional de Telecomunicacoes yang merupakan pihak berkuasa kerajaan Brazil untuk produk komunikasi yang diperakui untuk pensijilan wajib dan sukarela. Prosedur kelulusan dan pematuhannya adalah sama untuk produk domestik dan luar negara Brazil. Jika produk berkenaan dengan pensijilan wajib, keputusan ujian dan laporan mestilah selaras dengan peraturan dan peraturan yang ditetapkan seperti yang diminta oleh ANATEL. Sijil produk hendaklah diberikan oleh ANATEL terlebih dahulu sebelum produk diedarkan dalam pemasaran dan digunakan secara praktikal.

▍Siapa yang bertanggungjawab untuk ANATEL Homologation?

Organisasi standard kerajaan Brazil, badan pensijilan lain yang diiktiraf dan makmal ujian ialah pihak berkuasa pensijilan ANATEL untuk menganalisis sistem pengeluaran unit pembuatan, seperti proses reka bentuk produk, perolehan, proses pembuatan, selepas perkhidmatan dan sebagainya untuk mengesahkan produk fizikal yang perlu dipatuhi dengan standard Brazil. Pengilang hendaklah menyediakan dokumen dan sampel untuk ujian dan penilaian.

▍Mengapa MCM?

● MCM mempunyai pengalaman dan sumber yang banyak selama 10 tahun dalam industri ujian dan pensijilan: sistem perkhidmatan berkualiti tinggi, pasukan teknikal yang sangat berkelayakan, penyelesaian pensijilan dan ujian yang cepat dan mudah.

● MCM bekerjasama dengan pelbagai organisasi tempatan berkualiti tinggi yang diiktiraf secara rasmi yang menyediakan pelbagai penyelesaian, perkhidmatan yang tepat dan mudah untuk pelanggan.

Pengenalan "ujian litar pintas dalaman mandatori" telah tertakluk kepada lebih banyak kontroversi. Tumpuan adalah sama ada keadaan litar pintas dalaman boleh disimulasikan dengan betul. Soalan-soalan yang dibangkitkan terutamanya seperti berikut: A) Thebaterimemusnahkan persekitaran elektrokimianya semasa proses pembongkaran. Walaupun proses pembongkaran memerlukan takat embun lebih rendah daripada -25℃, ia masih tidak dapat menjamin sepenuhnya bahawa bateri mengekalkan keadaan asalnya. B) Sama ada kepingan nikel boleh menembusi diafragma, dan jika ia tidak menembusi, bolehkah dikatakan bahawa ujian itu layak. Langkah 7 Pemasangan Pasang jip untuk menekan. Permukaan bawah bahagian bergerak peralatan akhbar (iaitu jip penekan) diperbuat daripada getah nitril atau resin akrilik, yang diletakkan pada aci keluli tahan karat 10x10mm. Permukaan bawah getah nitril adalah untuk ujian sel silinder. Untuk ujian sel prismatik, resin akrilik 5×5 (ketebalan 2mm) diletakkan pada getah nitril. Langkah 8 Tetapkan parameter Lekapan digerakkan ke bawah pada kelajuan 0.1mm/s. Tetapkan keadaan potong: daya penekan mencapai tekanan mencapai 400N untuk sel prismatik dan 800N untuk sel silinder atau voltan menurun lebih daripada 50mV. Kekalkan 30-an di bawah keadaan cutoff. Langkah 9 Hancurkan Sampel telah diuji apabila suhu memenuhi keperluan ujian. Langkah 10 Kriteria Penerimaan Tiada kebakaran. Catatkan daya apabila litar pintas dalaman berlaku jika tiada kebakaran.
本 期 主 要 内 容 第 12 页C) Adakah terdapat kaedah ujian lain untuk mensimulasikan litar pintas dalaman bateri? Kami akan membincangkan isu di atas secara terperinci: Mengikut pengumpulan sampel ujian selama bertahun-tahun, elektrolit benar-benar meruap semasa proses pembongkaran, kepingan tiang benar-benar kering dan bahan salutan jatuh kira-kira 5%. Punca yang mungkin adalah: persekitaran pembongkaran gagal memenuhi keperluan, dan masa pembongkaran terlalu lama. Bagi kes plat nikel tidak menusuk diafragma, ujian dalam kes ini harus dianggap tidak berjaya dalam pemahaman peribadi saya. Oleh itu, sama ada sampel lulus ujian litar pintas dalaman paksa perlu diuji semula. Sebabnya ialah tujuan ujian ini adalah untuk mensimulasikan kejadian litar pintas dalaman. Jika plat nikel tidak menusuk diafragma, tidak akan berlaku litar pintas, iaitu, tiada simulasi kepada kejadian litar pintas. Cara mudah untuk menentukan sama ada diafragma ditebuk adalah untuk melihat sama ada terdapat penurunan voltan semasa ujian